GRADIS分散系統適用于那些不需要太高分散能量的樣品比如晶體、沙粒、小粒等。下落柱可以對樣品提供均勻的分散效果并控制以保持顆粒在通過(guò)激光束的時(shí)候保持速度一致。它既可用于激光粒度儀主機HELOS，又可用于圖像分析儀主機QICPIC。
測試原理： 利用光的衍射現象，即大顆粒產(chǎn)生的衍射角小，小顆粒產(chǎn)生的衍射角大，通過(guò)計算探測器上收集到的不同衍射圖形的光強分布，來(lái)給出顆粒的粒度大小和粒度分布。 檢測粒度范圍： 0.5- 8750 微米 （可根據實(shí)際應用范圍配置量程） 測試結果精度： 準確度 σ ± 1 % 平均相對標準偏差(x10…x90) 測試重復性 σ < 0.3 % 多次取樣重復性誤差 儀器可比性 σ < 1 % 中位徑的平均相對標準偏差 (x50) |Δx50| < 2.5 % 最大相對偏差 功能及特點(diǎn)：
1. 如需要，樣品可以在測試之后回收再利用
2. 可對非常粗的顆粒進(jìn)行檢測，而每次的樣品量可以達到公斤級
3. 下落柱的出口狹縫的寬度2 mm, 4 mm 或者 10 mm可手動(dòng)選擇，以適配樣品應用
4. 在一些特殊的應用中，可對下落柱進(jìn)行導電或者非導電的PTFE鍍膜處理
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