SAXSpoint 5.0 是采用同步加速器探測器技術(shù)的極限 SAXS/WAXS/GISAXS/RheoSAXS 實(shí)驗室光束線(xiàn)，可在緊湊型系統中實(shí)現最高分辨率。受益于安東帕出色的 SAXS 系統，該系統可解析高達 620 nm 的納米結構。SAXSpoint 5.0 能夠在室溫環(huán)境和非室溫環(huán)境條件下分析幾乎所有材料，具有極大的靈活性。許多其他可選功能使 SAXSpoint 5.0 可以用于未來(lái)的微米級 (USAXS) 應用。通過(guò)功能強大的軟件包，可以自動(dòng)進(jìn)行操作和數據分析，輕松實(shí)現材料特性的無(wú)損研究。
SAXSpoint 5.0 采用高光譜純度和無(wú)散射光束準直的高亮度 X-射線(xiàn)束。配備強大的微焦斑光源或 MetalJet X-射線(xiàn)源和高性能光學(xué)元件，可在極短的曝光時(shí)間內提供出色的測量結果。結合最新的混合光子計數 (HPC) 探測器，可確保獲得高質(zhì)量的 SAXS/WAXS/GISAXS/RheoSAXS 結果，以實(shí)現納米結構材料分析。通過(guò)這種出色的設置，可以實(shí)現極好的分辨率，并以同類(lèi)產(chǎn)品中最緊湊的系統尺寸解析高達 620 nm 的結構。
SAXSpoint 5.0 具有移動(dòng)探測器 Slidemaster，可在非常寬的 q 范圍內進(jìn)行全自動(dòng) X-射線(xiàn)散射研究。因此，您可以一次性獲得 SAXS 和 WAXS 數據，無(wú)需重新調準系統。只需移動(dòng)探測器，即可為每次實(shí)驗選擇最佳的 q 范圍，從最高 SAXS 分辨率到寬的 WAXS 范圍。
SAXSpoint 5.0 為您的測量提供自動(dòng)光束遮擋器選擇和定位。由于它集成了最新的 EIGER2 R 探測器，因此可以進(jìn)行無(wú)窗和無(wú)光束遮擋測量。
自動(dòng)完成日常測量工作，加快測量速度，是 SAXSpoint 5.0 實(shí)驗室系統的標準性能。SAXSpoint 5.0 配備了 Stagemaster，它可以自動(dòng)對準所有 X-射線(xiàn)成分和樣品臺，識別安裝的樣品臺，并相應地配置系統。這為您的測量設置提供最佳的可能結果。使用 ASX 自動(dòng)進(jìn)樣器，對液體樣品，如分散液和生物樣品，自動(dòng)樣品進(jìn)出。ASX 自動(dòng)進(jìn)樣器可配備最多 192 個(gè)樣品，并針對敏感型樣品提供冷卻選件。
幾乎所有種類(lèi)的納米結構材料都可以使用安東帕的各種樣品臺進(jìn)行分析。使用 TrueFocus 可以輕松、快速地在不同的樣品臺之間切換，并可確保自動(dòng)對準所有組件。受益于測量裝置獨有的靈活性。
溫控臺：在 -150°C 到 600 °C 范圍進(jìn)行控溫研究。
濕度樣品臺：在規定的相對濕度和溫度條件下進(jìn)行分析
GISAXS/GIXD 樣品臺：在真空條件下或者與獨特的 GISAXS 加熱模塊（高達 500℃）聯(lián)用研究納米結構表面和薄膜
加熱/冷卻進(jìn)樣器：利用溫控進(jìn)樣器進(jìn)行自動(dòng)研究（多固相/糊狀/液體樣品或毛細管樣品）
Tensile 樣品臺：在定義的機械載荷下，分析納米結構纖維。定制樣品臺解決方案。
RheoSAXS 模塊：一次性進(jìn)行完整的流變和納米結構研究
剪切臺：高達 350 °C下的剪切實(shí)驗
功能強大的 SAXSdrive™ 和 SAXSanalysis™ 軟件解決方案支持自動(dòng)執行常規步驟，如測量設置和調準，以及綜合數據分析。設置連續測量，利用自動(dòng)進(jìn)樣、溫度掃描和時(shí)間相關(guān)研究，并使用可定制的模板分析獲得的 1D 和 2D 數據集。確定回轉半徑 (RG)、粒徑、Porod 常數、比表面積、Kratky 曲線(xiàn)等參數是 SAXSanalysis™ 的標準功能。對于高級結構解析 (PCG)，如粒徑、粒徑分布、形狀和內部結構，可使用 IFT 和去卷積方法。
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